Měřicí jednotky pro laserové skenovací mikrometry

544_532_z1_eps
Rozsah měř.: 0,005 - 2
Rozsah měř.: 0,005 - 2

LSM-500S

Vysoce přesný bezkontaktní měřicí systém

  • Umožňuje měření od ø 5 μm.
  • Poskytuje extrémně vysokou přesnost s linearitou ±0,3 μm v celém rozsahu měření (od 5 μm až do 2 mm).
  • Extrémně vysoká opakovatelnost ±0,03 μm.
  • Vysoká rychlost skenování 3200 skenů/s
544_534_z_eps
Rozsah měř.: 0,05 - 10
Rozsah měř.: 0,05 - 10

LSM-501S

Vysoce přesný bezkontaktní měřicí systém

  • Poskytuje extrémně vysokou přesnost s linearitou ±0,5 μm v celém rozsahu měření (od 0,05 mm až do 10 mm) a ±(0,3+0,1ΔD) μm v malém měřicím rozsahu.
  • Extrémně vysoká opakovatelnost ±0,04 μm.
  • Vysoká rychlost skenování 3200 skenů/s
544_536_z_eps
Rozsah měř.: 0,3 - 30
Rozsah měř.: 0,3 - 30

LSM-503S

Vysoce přesný bezkontaktní měřicí systém

  • Typ pro všeobecné použití s měřicím rozsahem 0,3 mm až 30 mm.
  • Poskytuje vysokou přesnost s linearitou ±1,0 μm v celém rozsahu měření a ±(0,6+0,1ΔD) μm v malém rozsahu měření.
  • Výborná opakovatelnost ±0,1 μm.
  • Vysoká rychlost skenování 3200 skenů/s.

544_538_z_eps

LSM-506S

Vysoce přesný bezkontaktní měřicí systém

  • Typ pro všeobecné použití s měřicím rozsahem od 1 mm až do 60 mm.
  • Poskytuje vysokou přesnost s linearitou ±3 μm v celém rozsahu měření a ±(1,5+0,5ΔD) μm v malém rozsahu měření.
  • Výborná opakovatelnost ±0,36 μm.
  • Vysoká rychlost skenování 3200 skenů/s.

 

544_540_z_eps
Rozsah měř.: 1 - 120
Rozsah měř.: 1 - 120

LSM-512S

Vysoce přesný bezkontaktní měřicí systém

  • Typ pro všeobecné použití s měřicím rozsahem od 1 mm až do 120 mm.
  • Poskytuje vysokou přesnost s linearitou ±6 μm v celém rozsahu měření a ±(4,0+0,5ΔD) μm v malém rozsahu měření.
  • Výborná opakovatelnost ±0,8 μm.
  • Vysoká rychlost skenování 3200 skenů/s.

 

544_542_z_eps
Rozsah měř.: 1 - 160
Rozsah měř.: 1 - 160

LSM-516S

Vysoce přesný bezkontaktní měřicí systém

  • Typ pro všeobecné použití s měřicím rozsahem od 1 mm až do 160 mm.
  • Poskytuje vysokou přesnost s linearitou ±7 μm v celém rozsahu měření a ±(4,0+2,0ΔD) μm v malém rozsahu měření.
  • Výborná opakovatelnost ±1,4 μm.
  • Vysoká rychlost skenování 3200 skenů/s